IEC/PAS 62177-2000 高加速温度和湿度应力试验(HAST)
作者:标准资料网 时间:2024-05-22 02:06:45 浏览:8504
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【英文标准名称】:Highly-acceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)
【原文标准名称】:高加速温度和湿度应力试验(HAST)
【标准号】:IEC/PAS62177-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;应力;电子工程;应力试验;试验;湿度试验;电子设备及元件;电气工程;温度试验
【英文主题词】:stresstests;semiconductordevices;electronicengineering;electronicequipmentandcomponents;temperaturetest;testing;electricalengineering;humiditytest;stress
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:高加速温度和湿度应力试验(HAST)
【标准号】:IEC/PAS62177-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;应力;电子工程;应力试验;试验;湿度试验;电子设备及元件;电气工程;温度试验
【英文主题词】:stresstests;semiconductordevices;electronicengineering;electronicequipmentandcomponents;temperaturetest;testing;electricalengineering;humiditytest;stress
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
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